Purity scanner MXS
Morphious®Purity Scanner MXS
Granules Purity Scanner
汚染物質の検出および選別:
金属、黒色仕様、着色および組成！
製造に使用されるポリマー組成物中の汚染汚染物質は、製造業者にとって非常に深刻な問題 したがって、主要な製造業者は、粒状材料中の汚染および異物の検出を可能にする特定の技術的解決策を高い確率で使用する。
そのような解決策の1つは、Purity Scannerと呼ばれ、MicrOptikによって開発されました。 X線および光学測定システム両方の利点を結合して、純度の走査器は高精度の混合物の汚染物を検出することができる。
この装置は、顆粒の内側と表面の両方で、最大50マイクロメートルの不純物を測定することができます。 純度の走査器は特徴によってすべての同じような解決を超過する革新的なX線の技術、また特に開発された光学系をだけでなく、結合します。 純度Scanerは、化合物の純度を100％制御することができ、その結果、製造に使用される材料に欠陥がないことを保証することができます。
マトリックス上およびマトリックス内の汚染を検出することができます！
密集した、モジュラー、険しく、使いやすく、維持すること容易および長い稼働時間!
X線、視力、分光のトリプル検査！
特徴:
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三重検査: X線、視野および分光学
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50μ m以上からの汚染物質の検出
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自動仕分け
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いろいろな種類の透明な、着色された餌のために適した
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密封状態で密封されたシステム
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既存の供給システムで統合すること容易
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構成による効率;25から2000のkg/hから
純度の走査器は豊富報告グラフを提供する。 構成によって、時間分解された光学マシンビジョン、X線データおよび分光データはあらゆる注文のフォーマットで視覚化され、報告することができる。
仕様: Morphious®純度スキャナMXS
すべての種類の透明および着色ペレットに適しています
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適用分野
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原料の生産 混合/Masterbatch プラスチック処理 放出 外部委託された分類 |
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検査方法/センサ技術
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X線、光学カメラ、分光光度計 |
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検出可能な最小汚染サイズ
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X線:50µ m(cube3D)、50x50x50µ m 光学: 50µ m(正方形2D)、50×50µ m 分光法:300µ m |
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適用と汚染の検出システムの整理による効率
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。 光学のため光学およびX光線のための1時間あたりの2トンだけ、1時間あたりの600のkg。 光学、X光線および分光学のため1時間あたりの600のkg。 |
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許容周囲温度
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+ 15 °C… +40℃
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空気湿度
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マックス 90 %
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インターフェイスRS232、USBオプション産業用フィールドバスProfinet IO、EtherNet/IP、Profibus-DP、CANopen、DeviceNetなど、LAN、OPC DA/UA
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電源
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3 ph400V AC(±10%)、50/60Hz(±3%)、2,700VA圧縮空気供給:最小。 6棒/最高。 8bar/空気品質クラス3(ISO8573.1) |
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次元（W X H X D)
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2,045 x1,010x645mm
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